钙钛矿发光器件的界面断裂
纽约州立大学理工学院(SUNY Poly)校长 Winston Soboyejo 博士与伍斯特理工学院(WPI)同事的研究成果《钙钛矿发光器件的界面断裂》已发表在《极端力学快报》杂志上。
该研究对钙钛矿发光器件 (PLED) 的断裂行为提供了重要见解,强调了界面韧性对器件性能的重要性。这可能会影响光电器件中未来的材料和界面工程策略。
此外,了解 PLED 的界面断裂韧性可以指导更坚固的设备设计,通过改善层间粘合性并减少缺陷传播。这可以提高 PLED 的性能和耐用性。
大约 30 年前,Soboyejo 博士首次了解到接触诱导失效的力学和界面失效的力学。21 世纪初,他开始与普林斯顿大学的前同事 (Steve Forrest) 和两位前博士生 (Yifang Cao 和 Changsoon Kim) 合作,研究一种用于制造发光设备的压力辅助方法。
结合实验和分析/计算研究的见解,产生了一种用于制造有机发光装置的专利冷焊方法,该方法随后获得三星的许可,用于制造 LED。
随后,大约 15 年前,Soboyejo 博士与普林斯顿大学电气工程博士生 (Tiffany Tong) 合作研究有机发光器件的界面失效。
这项工作开发了本研究中使用的实验方法,在该研究中,他指导了一位前 WPI 博士生 (Jaya Cromwell) 和一位前 WPI 博士生兼博士后 (Reisya Ichiwani),研究新一代发光装置的界面失效和增韧。
这项最新研究的见解已促成一项已发布的专利,该专利涉及压力辅助制造下一代发光装置和太阳能电池,该项研究由 Soboyejo 博士以前的博士生和博士后(来自非洲科技大学 (AUST) 和 WPI 的 Kehinde Oyewole 博士、Deborah Oyewole 博士和 Lara Oyelade 博士)以及来自 WPI 的 Jaya Cromwell 和 Reisya Ichiwani 完成。